JDT Precision Inc  
细微之间 精髓所致 

测试治具


测试治具 – POGOPIN

金東唐採用POGOPIN测试法,针对连接器和金手指直接设针,对贴装后的PCB/FPC产品进行在线与功能测试。金東唐独特的POGOPIN测试治具结构包含:

- 专业稳定的导轨框架系统

- 高精度的针模钻孔加工

- 持久耐用的进口探针与板材

- 可定制添加打码读码模块,以结合记录生产供应链

解决了传统公母接插件测试产生的接触不稳定、损耗大、易磨损等问题,为测试提供了极高且稳定的良率。


测试治具 – WIREPIN

金東唐採用WIREPIN测试法,针对接触点设针,对贴装前的高密度FPC、HDI板及IC载板、特别是整张光板产品进行在线测试。金東唐专利的WIREPIN测试治具结构包含:

- 高精度的超微细孔钻孔加工工艺

- 持久耐用的超微探针与板材

解决了採用飞针测试法产生的无法应对低pitch值产品及落针不稳的问题,为测试提供了极高且稳定的良率。

测试治具 – NON-CONTACT

金東唐引进日本非接触式测试技术,针对精密被测品金手指端单面设针,输入脉冲驱动信号,利用另一端所设非接触式感应器接受输出信号,检测ITO点击的开短路和电容值。

-零划伤:不接触产品,适用于触摸屏等各种尺寸LCD\DPD玻璃屏幕,精密基板和太阳能电池。

解决了传统方式方法採用探针会留针印或损伤产品的难题,同时为测试提供了极高且稳定的良率。

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